（4）原位溶液中的溶质：一般为不超过1 M的强酸或强碱，也是背底信号来源之一，计算方法与溶剂类似。待测元素Fe、溶质1M HCl：Formula为HCl，Energy同粉末样品设置方法，这里用Molarity代替Density，1mol/L。下图结果部分中，所标出的计算数值显示：单位吸收时1 mol/L HCl为1.9mm厚，换言之，如果溶液厚度达到或超过1.9mm，则溶质对于X射线的吸收不能忽略。
从下表可以看出：相同条件下，含z值大的酸，溶质吸收高。具体为： HCl = H2SO4 > H3PO4>> HNO3，换言之，HNO3更适合电化学原位XAFS实验。
|
元素 |
吸收边 (eV) |
1M HCl (mm) |
1M H2SO4 (mm) |
1M H3PO4 (mm) |
1M HNO3 (mm) |
|
Fe |
7112 |
1.9 |
1.9 |
2.3 |
10.8 |
|
Cu |
8979 |
3.7 |
3.7 |
4.6 |
21.7 |
|
Pt |
11564 |
7.6 |
7.8 |
9.5 |
45.7 |
|
Bi |
13419 |
11.6 |
11.9 |
14.6 |
70.0 |
|
Zr |
17998 |
27.0 |
27.6 |
33.8 |
154 |
|
Ru |
22117 |
49.0 |
49.0 |
59.6 |
250 |
|
Ag |
25514 |
73.7 |
71.9 |
86.7 |
334 |
|
Sn |
29200 |
108 |
101 |
121 |
422 |
含z值大的碱，溶质吸收高，NaOH更适合电化学原位XAFS实验。
|
元素 |
吸收边 (eV) |
1M NaOH (mm) |
1M KOH (mm) |
|
Fe |
7112 |
8.2 |
1.2 |
|
Cu |
8979 |
16.3 |
2.4 |
|
Pt |
11564 |
34.3 |
4.8 |
|
Bi |
13419 |
53.1 |
7.3 |
|
Zr |
17998 |
123 |
16.9 |
|
Ru |
22117 |
213 |
30.4 |
|
Ag |
25514 |
304 |
45.7 |
|
Sn |
29200 |
413 |
66.7 |
此外，溶质的浓度与单位吸收厚度严格成反比例关系。以Fe为例，1M NaOH为8.2mm，那么0.1M NaOH就是82mm。因此，减小酸碱的浓度亦可降低背底。
（5）X射线窗口：一般为Kapton（聚酰亚胺），分子式近似看成C，厚度0.2mm（0.02cm），密度1.4g/cm3（1400mg/cm3），面密度为28mg/cm2。这是单个窗口，如果是透射模式，则X射线经过两个窗口，所以面密度是56mg/cm2。这里可以参考下基底的计算结果（两者完全相同），因X射线窗口所造成的背底也是基本可以忽略的。